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X-Strata980（X荧光镀层测厚及元素分析仪）简介： X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积 的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高， 能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求， 帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系 数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别 出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱 门使样品更易放入。 X-Strata980（X荧光镀层测厚及元素分析仪）应用: --RoHS/WEEE --有害元素痕量分析 --焊料合金成分分析和镀层厚度测量 --电子产品中金和钯镀层的厚度测量 --五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量 --贵金属合金分析和牌号鉴定